光(guang)(guang)學透鏡的表(biao)(biao)面質量(liang)用來衡量(liang)光(guang)(guang)學透鏡表(biao)(biao)面特性，并且(qie)涵蓋了一些劃痕和坑點等瑕疵。這些表(biao)(biao)面的大部(bu)分(fen)瑕疵純粹是表(biao)(biao)面上的瑕疵，并不會(hui)對(dui)系統(tong)性能(neng)產生很大的影響，雖然，它們可(ke)能(neng)會(hui)使系統(tong)通(tong)光(guang)(guang)量(liang)出現微(wei)小的下滑，使散(san)射(she)光(guang)(guang)出現更細微(wei)的散(san)射(she)。然而，有(you)些表(biao)(biao)面會(hui)對(dui)這些影響更敏感，如(ru)：

(1)圖像平面(mian)的表面(mian)，因(yin)為這些瑕疵(ci)會(hui)產生聚焦

(2)具(ju)有高功率級別的表面，因(yin)為這(zhe)些瑕疵會增加(jia)能量吸收并毀(hui)壞光學(xue)透鏡。

表(biao)面質(zhi)量(liang)常(chang)用(yong)的規格(ge)(ge)是(shi)由MIL-PRF-13830B說明的劃痕(hen)和坑點規格(ge)(ge)。通(tong)(tong)過(guo)將(jiang)表(biao)面的劃痕(hen)與在(zai)受控的照明條(tiao)件下(xia)提供的一(yi)系列標(biao)準劃痕(hen)進(jin)行(xing)對(dui)比， 來確(que)定劃痕(hen)名(ming)稱。因此， 劃痕(hen)名(ming)稱不是(shi)描述其實際的劃痕(hen)， 而是(shi)根據(ju)MIL規格(ge)(ge)將(jiang)其與標(biao)準的劃痕(hen)進(jin)行(xing)比較。然(ran)而， 坑點名(ming)稱直接(jie)與表(biao)面的點或(huo)小坑有(you)關。坑點名(ming)稱是(shi)通(tong)(tong)過(guo)以微米(mi)計的坑點直徑除以10來計算(suan)的，通(tong)(tong)常(chang)劃痕(hen)坑點規格(ge)(ge)在(zai)80至50之(zhi)間將(jiang)視為(wei)標(biao)準質(zhi)量(liang)，在(zai)60至40之(zhi)間為(wei)精確(que)質(zhi)量(liang)，而在(zai)20至10之(zhi)間將(jiang)視為(wei)高精度(du)質(zhi)量(liang)。